FET-5.01渦流探傷儀
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來源:
儀器簡介:
渦流檢測(ECT)是一種用于對金屬部件進行無接觸檢測的技術(shù)。在交流電的激勵下,探頭在被檢部件中感應(yīng)出渦流。任何能使渦流改變的不連續(xù)性或材料性能的變化都會被探頭檢測出來,并被視為潛在的缺陷。多年來,探頭技術(shù)和數(shù)據(jù)處理取得了不斷的進步,現(xiàn)在渦流技術(shù)被公認為是一種快速、簡單、準確的技術(shù)。這正是航空、汽車、石油化工以及電力生產(chǎn)等工業(yè)部門廣泛應(yīng)用渦流技術(shù),檢測諸如:鋁、不銹鋼、銅、鈦、黃銅、鉻鎳合金,甚至碳鋼等材料表面或近表面缺陷的原因。
功能特點:
?是一種快速、簡單可靠的檢測技術(shù),用于檢測導電材料表面或近表面的缺陷。
?使用高速旋轉(zhuǎn)掃查器和探頭對工件進行檢測。
渦流探頭
Olympus NDT標準渦流探頭有以下各種類型:
?螺栓孔探頭
?各種不同形狀和配置的表面探頭
?低頻Spot(點狀)和Ring(環(huán)狀)探頭
?Sliding(滑動)探頭
?Wheel(輪式)探頭
?用于特殊應(yīng)用的特制探頭
渦流檢測使用的探頭形狀可以變化,以更好的適用于特定的應(yīng)用。
a- 在選定的頻率下,通過探頭的交流電在探頭周圍產(chǎn)生磁場。
b- 當線圈靠近導電材料時,材料中產(chǎn)生感應(yīng)渦流。
c- 如導電材料中的缺陷干擾了渦流流通,探頭的磁耦合會發(fā)生改變,通過測量線圈的阻抗變化可解讀缺陷信號。
渦流軟件
阻抗平面圖和帶狀圖顯示
?用戶可選擇屏幕持續(xù)的時間。
?參考信號覆蓋圖可保持在屏幕上,便于對信號進行解讀。
?在凍結(jié)模式下可對信號進行旋轉(zhuǎn)或做增益調(diào)整,而無需始終將探頭固定于工件上。
?縮放和更佳頁面顯示調(diào)整功能。
?可連接多種掃查器
?帶阻抗平面圖和帶狀圖或?qū)崟rAC掃描成像顯示。
多頻操作和自動混頻能力
?高達8個頻率的操作(1個通道:8個頻率;2個通道:4個頻率;4個通道: 2個頻率)
?自動混頻能力
實時數(shù)據(jù)處理
?3個可被定義為不同形狀的報警器,可激活指示燈、蜂鳴器或TTL輸出。
?高通、低通和專用濾波器(帶有IIR和FIR濾波功能)。
報警
?用戶可選報警(扇形、長方形、環(huán)形)的整個范圍。
?設(shè)置簡單、快捷。
?報警輸出可被完全控制。
渦流報告
?報告創(chuàng)建簡單快捷。
?HTML報告格式具有很大的靈活性,可通過電子郵件快速傳送,并可在任何Web瀏覽器上觀看。
?預(yù)先定義及用戶定制的報告。
技術(shù)參數(shù):
通道數(shù)量1-4個通道
探頭識別自動探頭識別與設(shè)置
發(fā)生器
發(fā)生器數(shù)量1個(帶有內(nèi)置電子參考)
更大電壓12 Vp-p,10 Ω
工作頻率20 Hz~6 MHz
帶寬8 Hz~5 kHz(單線圈中)。同時隙成反比例關(guān)系,并通過儀器在多路模式下設(shè)定。
接收器
接收器數(shù)量1個~4個
更大輸入信號1 Vp-p
增益28 dB~68 dB
數(shù)據(jù)采集
數(shù)字化頻率40 MHz
采集速率1 Hz~15 kHz(單線圈中)。 速率可由儀器處理能力限制,或通過多路激發(fā)模式的延遲設(shè)定所限制。
A/D分辨率16比特
數(shù)據(jù)處理
相位旋轉(zhuǎn)0°~359°,步距0.1°
濾波FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻(截止頻率可調(diào))、中值濾波器(在2點~200點之間變化)、平均濾波器(在2點~200點之間變化)
通道處理混合
數(shù)據(jù)存儲
更大文件容量取決于內(nèi)部閃存大?。?80 MB(或者300 MB,可選)
數(shù)據(jù)同步
按內(nèi)部時鐘1 Hz~15 kHz(單)
外部步速有
按編碼器單軸或雙軸
報警器
報警區(qū)域形狀扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環(huán)形
輸出類型視頻、音頻以及TTL信號
模擬輸出1個(X或Y)